微測(cè)檢測(cè)智能排插研討會(huì)圓滿成功
由微測(cè)檢測(cè)主辦的"智能排插研討會(huì)"于2016年12月9日在深圳市成功召開(kāi)。大會(huì)以智能排插為主題,旨在為智能排插領(lǐng)域提供一個(gè)探討最新核心技術(shù)、應(yīng)對(duì)策略、創(chuàng)新技術(shù)(產(chǎn)品)一個(gè)高層次的溝通、合作、交流平臺(tái)。
本次會(huì)議邀請(qǐng)了 Intertek 天祥資深工程師 Angus Tam、微測(cè)檢測(cè)技術(shù)經(jīng)理 Ares 、微測(cè)檢測(cè)項(xiàng)目經(jīng)理 Yoki 等智能排插領(lǐng)域?qū)<疫M(jìn)行了探討和分析。與會(huì)人員積極互動(dòng),分享了滿滿的干貨,活動(dòng)現(xiàn)場(chǎng)氣氛熱烈。
微測(cè)檢測(cè)總經(jīng)理致辭
天祥 Angus Tam分享
在大家依依不舍中,智能排插研討會(huì)圓滿落幕。感謝每一位參會(huì)代表和工作人員的辛苦付出,活動(dòng)能夠得到大家的一致肯定和支持,你們的付出是值得。
最后驚喜大放送,微測(cè)檢測(cè)在2017年新的一年將會(huì)有一場(chǎng)神秘大會(huì)接踵而至,錯(cuò)過(guò)這次的你不用遺憾,盡情期待吧!
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