【微測】表面分析昂貴的儀器設(shè)備-XPS.AES
什么是表面分析?
表面分析是對固體表面或界面上只有幾個(gè)原子層厚的薄層進(jìn)行組分、結(jié)構(gòu)和能態(tài)等分析的材料物理試驗(yàn)。也是一種利用分析手段,揭示材料及其制品的表面形貌、成分、結(jié)構(gòu)或狀態(tài)的技術(shù)。針對含有涂層或鍍層的產(chǎn)品進(jìn)行化學(xué)成分分析和物理性能測試,以及對在生產(chǎn)過程中產(chǎn)品表面被污染、腐蝕和氧化等形成的異物進(jìn)行形貌觀察、化合物鑒定等。所涉及的對象有電子電器、汽車、金屬配件、鐘表、通訊產(chǎn)品等。
昂貴的表面分析檢測儀器-XPS.AES
X射線光電子能儀(XPS)利用光電效應(yīng)的原理,測量X射線激發(fā)出的光電子能量和計(jì)數(shù),對樣品表面幾個(gè)納米深度范圍內(nèi)進(jìn)行半定量的成分和化學(xué)態(tài)分析。俄歇電子能譜儀利用電子激發(fā)出的俄歇電子,對表面進(jìn)行微區(qū)的成分和化學(xué)態(tài)分析。XPS和AES結(jié)合離子濺射還可以對多層膜等樣品進(jìn)行深度剖析,測得每層的成分、化學(xué)態(tài)以及相應(yīng)的厚度。
測試范圍
除H和He之外的所有元素 分析深度約5納米(AES約3納米)
檢測下限約0.1% 空間分辨率約30微米(AES約10nm)
服務(wù)項(xiàng)目
各種固體表面的元素成分、化學(xué)價(jià)態(tài)、分子結(jié)構(gòu)分析和深度剖析等。
由于這套設(shè)備的精密度極高,所以價(jià)格非常昂貴。國內(nèi)擁有這套設(shè)備的實(shí)驗(yàn)室為數(shù)不多。微測檢測合作的實(shí)驗(yàn)室,是國內(nèi)專業(yè)的材料檢測實(shí)驗(yàn)室,擁有國內(nèi)先進(jìn)的檢測設(shè)備,專業(yè)辦理材料檢測、成分分析、表面分析、配方分析等,服務(wù)過的企業(yè)有華為、中興、BYD等大型企業(yè)。
24小時(shí) 客戶服務(wù)熱線:如果您對以上表面分析感興趣或有疑問,請點(diǎn)擊聯(lián)系我們網(wǎng)頁右側(cè)的在線客服,或致電:400-666-1678,微測檢測——您全程貼心的認(rèn)證顧問。
相關(guān)資訊
推薦認(rèn)證
同類文章排行
- 微測檢測 | 一文帶您了解谷歌Fast Pair
- 微測檢測 | 一文帶您了解谷歌Fast Pair
- 微測檢測為您全方面解析美國UL1973安全標(biāo)準(zhǔn)
- 資訊 | IEC 62133-2:2017+AMD1:2021新版發(fā)布細(xì)則
- 【UKCA最新消息】英國UKCA強(qiáng)制實(shí)施日期延期至2023年1月1日
- 一文帶你了解Magsafe認(rèn)證及設(shè)計(jì)要求
- 重要:蘋果正式開放MagSafe磁吸無線充模塊認(rèn)證
- 西班牙頒布最新衛(wèi)生口罩法規(guī)要求CSM/115/2021
- 又一標(biāo)準(zhǔn)更新,歐盟更新CE RED指令
- 英國最新社區(qū)口罩測試規(guī)范